기관회원 [로그인]
소속기관에서 받은 아이디, 비밀번호를 입력해 주세요.
개인회원 [로그인]

비회원 구매시 입력하신 핸드폰번호를 입력해 주세요.
본인 인증 후 구매내역을 확인하실 수 있습니다.

회원가입
서지반출
Dependence of the 1/f Noise Characteristics of CMOSFETs on Body Bias in Sub-threshold and Strong Inversion Regions
[STEP1]서지반출 형식 선택
파일형식
@
서지도구
SNS
기타
[STEP2]서지반출 정보 선택
  • 제목
  • URL
돌아가기
확인
취소
  • Dependence of the 1/f Noise Characteristics of CMOSFETs on Body Bias in Sub-threshold and Strong Inversion Regions
  • Dependence of the 1/f Noise Characteristics of CMOSFETs on Body Bias in Sub-threshold and Strong Inversion Regions
저자명
Kwon. Sung-Kyu,Kwon. Hyuk-Min,Kwak. Ho-Young,Jang. Jae-Hyung,Shin. Jong-Kwan,Hwang. Seon-Man,Sung. Seung-Yong,Lee. Ga-Won,Lee. S
간행물명
Journal of semiconductor technology and science
권/호정보
2013년|13권 6호|pp.655-661 (7 pages)
발행정보
대한전자공학회
파일정보
정기간행물|ENG|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
서지반출

기타언어초록

In this paper, the 1/f noise characteristics of n-channel MOSFET (NMOSFET) and p-channel MOSFET (PMOSFET) are analyzed in depth as a function of body bias. The normalized drain current noise, $S_{ID}/I_D{^2}$ showed strong dependence on the body bias in the sub-threshold region for both NMOSFET and PMOSFET, and NMOSFET showed stronger dependence than PMOSFET on the body bias. On the contrary, both of NMOSFET and PMOSFET do not exhibit the dependence of $S_{ID}/I_D{^2}$ on body bias in strong inversion region, although the noise mechanisms of two MOSFETs are different from each other.