- Dependence of the 1/f Noise Characteristics of CMOSFETs on Body Bias in Sub-threshold and Strong Inversion Regions
- Dependence of the 1/f Noise Characteristics of CMOSFETs on Body Bias in Sub-threshold and Strong Inversion Regions
- ㆍ 저자명
- Kwon. Sung-Kyu,Kwon. Hyuk-Min,Kwak. Ho-Young,Jang. Jae-Hyung,Shin. Jong-Kwan,Hwang. Seon-Man,Sung. Seung-Yong,Lee. Ga-Won,Lee. S
- ㆍ 간행물명
- Journal of semiconductor technology and science
- ㆍ 권/호정보
- 2013년|13권 6호|pp.655-661 (7 pages)
- ㆍ 발행정보
- 대한전자공학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물|ENG| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
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