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PCB 검사를 위한 개선된 통계적 그레이레벨 모델
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  • PCB 검사를 위한 개선된 통계적 그레이레벨 모델
  • Improved Statistical Grey-Level Models for PCB Inspection
저자명
복진섭,조태훈,Bok. Jin Seop,Cho. Tai-Hoon
간행물명
반도체디스플레이기술학회지
권/호정보
2013년|12권 1호|pp.1-7 (7 pages)
발행정보
한국반도체디스플레이기술학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

Grey-level statistical models have been widely used in many applications for object location and identification. However, conventional models yield some problems in model refinement when training images are not properly aligned, and have difficulties for real-time recognition of arbitrarily rotated models. This paper presents improved grey-level statistical models that align training images using image or feature matching to overcome problems in model refinement of conventional models, and that enable real-time recognition of arbitrarily rotated objects using efficient hierarchical search methods. Edges or features extracted from a mean training image are used for accurate alignment of models in the search image. On the aligned position and orientation, fitness measure based on grey-level statistical models is computed for object recognition. It is demonstrated in various experiments in PCB inspection that proposed methods are superior to conventional methods in recognition accuracy and speed.