- Comparison of ECT Probes in Diagnosis of Defects
- Comparison of ECT Probes in Diagnosis of Defects
- ㆍ 저자명
- Mun. Ho-Young,Kim. Chang-Eob
- ㆍ 간행물명
- Journal of electrical engineering & technology
- ㆍ 권/호정보
- 2014년|9권 1호|pp.190-196 (7 pages)
- ㆍ 발행정보
- 대한전기학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물|ENG| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
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