- Method to Prevent the Malfunction Caused by the Transformer Magnetizing Inrush Current using IEC 61850-based IEDs and Dynamic Performance Test using RTDS Test-bed
- Method to Prevent the Malfunction Caused by the Transformer Magnetizing Inrush Current using IEC 61850-based IEDs and Dynamic Performance Test using RTDS Test-bed
- ㆍ 저자명
- Kang. Hae-Gweon,Song. Un-Sig,Kim. Jin-Ho,Kim. Se-Chang,Park. Jong-Soo,Park. Jong-Eun
- ㆍ 간행물명
- Journal of electrical engineering & technology
- ㆍ 권/호정보
- 2014년|9권 3호|pp.1104-1111 (8 pages)
- ㆍ 발행정보
- 대한전기학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물|ENG| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
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