멀티 레벨 낸드 플래시 메모리는 한 셀에 2 비트 이상의 정보를 저장하는 구조이고, 비트 위치별 채널 LLR의 밀도 함수 l-밀도가 비대칭 특성을 가지고 있다. 이런 특성은 이진 무기억 대칭 채널 조건에서 설계된 오류 정정부호의 성능이 제대로 발휘되지 못하게 할 뿐만 아니라, 멀티 레벨 낸드 플래시 메모리용 연판정 복호를 수행하는 이진 오류 정정 부호의 설계도 어렵게 한다. 본 논문에서 밀도 미러링과 EM 알고리즘을 이용하여 오류 정정 부호 설계를 위한 차선책을 소개한다. 밀도 미러링은 EM 알고리즘을 적용하기 전에 0 부호어를 전송한 경우로 가정할 수 있도록 하기 위해서 채널 LLR을 처리하는 과정이고, 이후 채널 LLR l-밀도를 EM 알고리즘을 적용하여 K개의 성분으로 이루어진 대칭 가우시안 혼합 밀도로 근사화하는 방법을 소개한다.
In this paper, we present two signal processing techniques for designing binary error correction codes for Multi-Level Cell(MLC) NAND flash memory. MLC NAND flash memory saves the non-binary symbol at each cell and shows asymmetric channel LLR l-density which makes it difficult to design soft-decision binary error correction codes such as LDPC codes and Polar codes. Therefore, we apply density mirroring and EM algorithm for approximating the MLC NAND flash memory channel to the binary-input memoryless channel. The density mirroring processes channel LLRs to satisfy roughly all-zero codeword assumption, and then EM algorithm is applied to l-density after density mirroring for approximating it to mixture of symmetric Gaussian densities. These two signal processing techniques make it possible to use conventional code design algorithms, such as density evolution and EXIT chart, for MLC NAND flash memory channel.
