- 베이지안 기법을 적용한 일회성 장비의 경제적 시험 수량 연구
- A Study of Economical Sample Size for Reliability Test of One-Shot Device with Bayesian Techniques
- ㆍ 저자명
- 이연호,이계신,이학재,김상문,문기성,Lee. Youn Ho,Lee. Kye Shin,Lee. Hak Jae,Kim. Sang Moon,Moon. Ki Sung
- ㆍ 간행물명
- 신뢰성응용연구
- ㆍ 권/호정보
- 2014년|14권 3호|pp.162-168 (7 pages)
- ㆍ 발행정보
- 한국신뢰성학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
