- 다단자 반도체 소자에서의 steady-state Nyquist 정리를 이용한 FET의 회소 잡음 지수 및 최적 소오스 임피던스 모델링
- ㆍ 저자명
- 이정배,민홍식,박영준
- ㆍ 간행물명
- 電子工學會論文誌. Jounnal of the Korea institute of telematics and electronics. A. A
- ㆍ 권/호정보
- 1995년|3호|pp.110-117 (8 pages)
- ㆍ 발행정보
- 대한전자공학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
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