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다단자 반도체 소자에서의 steady-state Nyquist 정리를 이용한 FET의 회소 잡음 지수 및 최적 소오스 임피던스 모델링
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  • 다단자 반도체 소자에서의 steady-state Nyquist 정리를 이용한 FET의 회소 잡음 지수 및 최적 소오스 임피던스 모델링
저자명
이정배,민홍식,박영준
간행물명
電子工學會論文誌. Jounnal of the Korea institute of telematics and electronics. A. A
권/호정보
1995년|3호|pp.110-117 (8 pages)
발행정보
대한전자공학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

New formulas for the minimum noise figure and the optimum source impedance of microwave FETs are derived using the noise equivalent circuits obtained from the steady-state Nyquist theorem for multi-terminal semiconductor devices. The derived formulas manifest the relationships between the noise sources and the physical parameters of a noise equivalent circuit. Furthermore the formulas can explain the effect of gate leakage current on the minimum noise figure and the optimum source impedance. comparisons with the published experimental data confirm the validity and usability of our formula.