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GSI소자 개발을 위한 극 저 에너지 이온 주입에 대한 분자 역학 시뮬레이션
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  • GSI소자 개발을 위한 극 저 에너지 이온 주입에 대한 분자 역학 시뮬레이션
  • Molecular dynamics simulation of ultra-low energy ion implantation for GSI device technology development
저자명
강정원,손명식,황호정
간행물명
電子工學會論文誌. Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics. D
권/호정보
1998년|3호|pp.18-27 (10 pages)
발행정보
대한전자공학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

Molecular dynamicsinvestigations of ion implantation considering point defect generation were performed with ion energies in the range of ~1keV, Simulation starts perfect diamond cubic lattice site. Stillinger-Weber potential and ZBL potential were used to calculate forces between atoms. We have simulated slowing-down of ion velocity, ion trajectory and coupled-coing between ion and silicon. We also discussed distribution of point defect using rdial distribution function. We found that interstitial produced by ion bombardment mainly formed interstitial cluster.