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MBE로 성장시킨 $ extrm{In}_{0.1} extrm{Ga}_{0.1} extrm{As}$에피층의 Photoreflectance 특성 연구
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  • MBE로 성장시킨 $ extrm{In}_{0.1} extrm{Ga}_{0.1} extrm{As}$에피층의 Photoreflectance 특성 연구
저자명
이동율,유재인,손정식,김기홍,이동건,이정열,배인호,손영호,황도언,Lee. Dong-Yul,Yu. Jae-In,Son. Jeong-Sik,Kim. Gi-Hong,Lee. Dong-Geon,Lee. Jeong-Yeol,Bae. In-
간행물명
한국재료학회지
권/호정보
1999년|9권 5호|pp.515-519 (5 pages)
발행정보
한국재료학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

We have investigated the photoreflectance characteristics for InulcornerGaAs/GaAs heterojunction structure grown by molecular beam epitaxy (MBE). The Eulcorner bandgap energy of InulcornerGaulcornerAs at room temperature was observed at about 1.3 eV. From this result, the indium composition x value was calculated. The shoulder peaks were observed higher than Eulcorner peaks, and peak positions were shifted toward 12 meV to 70 meV higher energy with increasing doping concentrations. The shoulder peaks can be observed by In segregation and re-evaporation. However, we think that indium re-evaporation cause th shift of shoulder peaks after epilayer growth.