- 회전평광법을 이용한 낮은 셀갭 측정
- ㆍ 저자명
- 김창선,이기동,윤태훈,김재창
- ㆍ 간행물명
- 한국광학회지
- ㆍ 권/호정보
- 2000년|11권 3호|pp.158-162 (5 pages)
- ㆍ 발행정보
- 한국광학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
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본 논문에서는 기존의 회전펴광자법에서 낮은 셀갭을 측정할 경우 발생하는 문제점을 보완하기 위하여 수치 해석적인 방법과 위상지연판을 이용한 방법을 도입하였으며 실험적 결과로부터 낮은 셀갭이 측정됨을 보였다.
Measurement of low cell gap and retardation by using a rotating polarizer method was proposed. For more precise calculation and measurement, we applied a simple numerical calculation and a retardation film that has large retardation value of 1 ~m to measurement system. From experiments, we proved that cell gap and retardation could be measured even though the values of those are so small. small.