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The Micro Pirani Gauge with Low Noise CDS-CTIA for In-Situ Vacuum Monitoring
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  • The Micro Pirani Gauge with Low Noise CDS-CTIA for In-Situ Vacuum Monitoring
  • The Micro Pirani Gauge with Low Noise CDS-CTIA for In-Situ Vacuum Monitoring
저자명
Kim. Gyungtae,Seok. Changho,Kim. Taehyun,Park. Jae Hong,Kim. Heeyeoun,Ko. Hyoungho
간행물명
Journal of semiconductor technology and science
권/호정보
2014년|14권 6호|pp.733-740 (8 pages)
발행정보
대한전자공학회
파일정보
정기간행물|ENG|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

A resistive micro Pirani gauge using amorphous silicon (a-Si) thin membrane is proposed. The proposed Pirani gauge can be easily integrated with the other process-compatible membrane-type sensors, and can be applicable for in-situ vacuum monitoring inside the vacuum package without an additional process. The vacuum level is measured by the resistance changes of the membrane using the low noise correlated double sampling (CDS) capacitive trans-impedance amplifier (CTIA). The measured vacuum range of the Pirani gauge is 0.1 to 10 Torr. The sensitivity and non-linearity are measured to be 78 mV / Torr and 0.5% in the pressure range of 0.1 to 10 Torr. The output noise level is measured to be $268{mu}V_{rms}$ in 0.5 Hz to 50 Hz, which is 41.2% smaller than conventional CTIA.